校准曲线的检验 线性检验:即检验校准曲线的精密度。计量检测对于以～个浓度单位所获得的测量信号值绘制的校准曲线，分光光度法一般要求其相关系数|r|≥，否则应找出原因并加以纠正，重新绘制合格的校准曲线。截距检验：即检验校准曲线的准确度，线性检验合格的基础上，对其进行线性回归，得出回归方程=+然后将所得截距与作检验，当取%置信水平，经检验无显著性差异时，可做处理，方程简化为=移项得=线性范围内，可代替查阅校准曲线，直接将样品测量信号值经空白校正后，计算出试样浓度。当与有显著性差异时，表示校准曲线的回归方程计算结果准确度不高，应找出原因予以校正后，重新绘制校准曲线并经线性检验合格。计算回归方程，经截距检验合格后投入使用。仪器计量回归方程如不经上述检验和处理，就直接投入使用，必将给测定结果引入差值相当于解决的系统误差。斜率检验:即检验分析方法的灵敏度，方法灵敏度是随实验条件的变化而改变的完全相同的分析条件下，仅由于操作中的随机误差导致的斜率变化不应超出一定的允许范围，此范围因分析方法的精度不同而异。
例如，一般而言，分子吸收分光光度法要求其相对差值小于%而原子吸收分光光度法则要求其相对差值小于%等等。校准曲线的控制方法 被测物转变为有色溶液的反应称为显色反应或发色反应。仪器校准显色反应的介质条件、显色剂用量、显色反应的时间和温度、为消除共存物干扰而加入的掩蔽剂、甚至加试剂的顺序，都要按照方法步骤的要求执行。有时，标准系列虽然不像实际试样那样组成复杂，但仍要求与试样进行同样的处理步骤，以便控制校准曲线上的数据点的空白、回收率等因素。建立校准曲线时，测量吸光度的参比有两种选择。第一种方法用纯溶剂作参比，两个比色皿都放溶剂时，样品比色皿”吸光度测定值为比色皿成对性校正值，此后所有样品吸光度测定值都须扣除此值，进行校正。仪器计量然后，以纯溶剂为参比，测定空白及标准系列的吸光度，绘制校准曲线。第二种方法直接用空白为参比。
当两个比色皿都放空白时，测定比色皿成对性校正值，然后测定标准系列的吸光度，绘制校准曲线。两种方法得到两条校准曲线互相平行，但第一种方法可测定空白的水平，后一种方法不能测定空白，理论上校准曲线通过原点。若空白为零，两条校准曲线重合。无论用什么作参比，实样测定时应该使用与建立校准曲线相同的比色皿和同样的参比。计量检测比色皿的成对性校正对于使用已久的比色皿是必要的尤其是测量吸光度很小的样品时，校正可保证测量值的可靠性和重复性。仪器检出限指分析仪器能够检测的被分析物的最低量或最低浓度。仪器检出限一般用于不同仪器的性能比较。
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