化学分析是指确定物质化学成分或组成的方法。根据被分析物质的性质可分为无机分析和有机分析。
根据分析的要求，可分为定性分析和定量分析。
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化学分析法是以物质的化学反应为基础的分析方法，分为重量分析和滴定分析，滴定分析包括酸碱滴定法，络合滴定法，氧化还原滴定法和沉淀滴定法。
仪器分析法利用特定的仪器，可以对物质进行定性、定量分析。
化学分析法特点：一般用于测定常量组分（相对含量≥1%），准确度高（相对误差0.1~ 0.2%左右）；
仪器分析法特点：适用于微量、痕量组分（1 % 以下）的测定以及结构分析，简便快速（一定条件下），灵敏度高。
1.基体金属厚度
每一种仪器都有一个基体金属的临界厚度。大于这个厚度，测量就不受基体金属厚度的影响。
2.基体金属磁性
磁性法测厚受基体金属磁性变化的影响(在实际应用中，低碳钢磁性的变化可以认为是轻微的)，为了避免热处理及冷加工因素的影响，应使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准。亦可用待涂覆试件进行校准。
3.边缘效应
仪器对试件表面形状的陡变敏感。因此在靠近试件边缘或内转角处进行测量是不可靠的。
4.曲率
试件的曲率对测量有影响。这种影响总是随着曲率半径的减少明显地增大。
5.表面粗糙度
基体金属和覆盖层的表面粗糙程度对测量有影响。粗糙程度增大，影响增大。粗糙表面会引起系统误差和偶然误差，每次测量时，在不同位置上应增加测量的次数，以克服这种偶然误差。如果基体金属粗糙，还必须在未涂覆的粗糙度相类似的基体金属试件上取几个位置校对仪器的零点;或用对基体金属没有腐蚀的溶剂溶解除去覆盖层后，再校对仪器的零点。
6.磁场
周围各种电气设备所产生的强磁场，会严重地干扰磁性法测厚工作。
7.附着物质
对那些妨碍测头与覆盖层表面紧密接触的附着物质敏感，因此，必须清除附着物质，以保证仪器测头和被测试件表面直接接触。
8.测头压力
测头置于试件上所施加的压力大小会影响测量的读数，因此仪器测头用弹簧保持一个基本恒定的压力。
9.测头的放置
测头的放置方式对测量有影响。在测量中，应当使测头与试样表面保持垂直。
10.试件的变形
测头会使软覆盖层试件变形，因此在这些试件上会测出不太可靠的数据。
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