0 序言
双胶片技术似乎应分为两类:
第一类，是因为被检区厚度差大而采用的技术（见资料〔1〕〕。特点是:两张感光速度不同的胶片，一同曝光，每张单片黑度均应在标准要求范围内，而且，单片观察评定，感光速度快的一张底片，用来评定被检区较厚部分; 感光速度慢的一张底片，用来评定被检区较薄部分。Ni9%钢焊缝(因为线衰减系数差大)的双胶片技术，也应该是此类技术。
第二类，是因为要缩短曝光时间或提高透照穿透力而采用的技术。特点是:两张感光速度相同的胶片，一同曝光，两张胶片的叠合黑度应在标准要求范围内（资料〔2〕强调单片黑度不小于1.3），双片观察评定。RCC-M规范第Ⅲ卷似乎强调的是这种双胶片技术。本文要讨论的，也是这种双胶片技术。
1 原理---为什么双胶片技术可以缩短曝光时间？
1.1 胶片对射线的吸收(衰减)率将近扩大了1倍
笔者在2011年5月6日的日志《工业胶片对射线剂量的吸收率》一文中，在不考虑铅屏衰减和增感作用的前提下，曾提出了下面的公式:
Rc=1-Rt=1-e-μ.ΔT≈μ.ΔT (1)
式中:
Rc一一胶片对射线的吸收(衰减)率;
Rt----胶片对射线的透射率;
μ——溴化银的线衰减系数，cm-1；
ΔT——此处为双面药膜厚度，cm。
如果双胶片曝光，公式(1)中的ΔT将变为2ΔT，双胶片对射线的吸收(衰减)率
Rc”≈2Rc (2)
实际应用时，由于铅屏增感作用，Rc和Rc”可能会有几倍的提高。
1.2 曝光时间将会缩短或穿透力将会提高
理论和试验证明:曝光时间t和胶片对射线的吸收(衰减)率Rc或Rc”成反比。这就是说，在中间铅屏选用适当的情况下:
(1) 其它条件相同，两张类型全同的胶片透照，达到预定黑度(双胶片叠合黑度)，比单片透照(达到预定黑度)，可以缩短曝光时间约为50%。此法经常用于减少RT人员在高危环境的作业时间。
(2) 其它条件相同，曝光时间不变，达到预定黑度，双胶片(类型全同)，资料〔3〕认为，透照的穿透能力大约可增一个半价层。此法用于提高射线机穿透力。笔者注:不同管电压下宽柬射线的半价层如下:
(摘自ASME SE-94-表1，)
管电压(KV) 半价层h(mm)
120 2.5
150 3.6
200 5.1
250 6.4
400 8.9
2 存在的问题
2.1双胶片的D-Lgt感光特性曲线
胶片的D-Lgt曲线，是X射线管电压和管电流确定后，底片黑度D与曝光时间t对数之间的关系曲线。对于非增感型(铅增感型)胶片的D-Lgt曲线，大约在黑度0.5以下，有迟钝区和曝光不足区;黑度从0.5至5是曝光正常区，是个近三次方的呈“J”形的曲线。在D=0.5～5的范围内，没有过渡区和反转区。而且，胶片梯度G大约和黑度成正比。而G是其它条件相同时，影响射线照相对比度的一个重要指标。
笔者不知: 双胶片的D-Lgt感光特性曲线是个什么样子？我猜想它的曲线较单片曲线会平行左移，双片叠合后对应黑度下的梯度G，与单片对应黑度下的梯度G相近或稍有降低。但我的猜想还没有其它资料证实。
2.2 曝光时间t与像质的关系
目前较为统一的认识是:曝光时间t增加，可以减少射线照相颗粒度。或者，从信息论的角度说，曝光时间t增加，可以提高信噪比。反过来说，曝光时间t减少，会使像质降低。
总之，这方面还需要感兴味的朋友做一些试验。
3 结论
第二类双胶片技术，是在特殊情况下，如要缩短曝光时间，或要提高透照穿透力，不得已而采用的一种技术。但由于双胶片叠合黑度仍在标准要求范围内，胶片梯度G可能不变，甚至降低(对丝形像质计或细微裂纹，难以做到完全重合)。如果采用该技术，目的是缩短曝光时间，将会增大射线照相颗粒度。因此，该方法与单胶片技术相比，可能会降低射线照像灵敏度。
由于本人实际应用双胶片的经历很少，以上论述，当否？望沟通。
参考资料
〔1〕强天鹏主编.射线检测〔M〕(2007版)第130页.
〔2〕ASME V(中石化出版社2007版)〔s〕T282.1第12页.
〔3〕《美国无损检测手册.射线卷》〔M〕(1992年中译本)642-643页。
回复 丁伟臣2012-3-28 11:24 在透照铸件时，由于壁厚差原因，通常采用双胶片技术。谢谢梁老的总结！
回复 liuhonghui2012-3-28 14:38 1、RCC-M双胶片法确实是世界上独一无二的，所“独”，独在他的评片方法是“运动中评片”，这也是RCC-M的一大发明。
2、当我们日常评定一张合格底片时，藐视7根（等距）“丝”都能看见，但是当用纸张盖上像质计，从细丝方向滑动纸张来检查像质计灵敏度，这时看到丝的数量就有差异了。这样也是检查个体差异的最好办法，甚至也可说成是对评片人员“测谎”的最佳办法。
3、当一张底片有仅有单一个气孔时，很难发现，当这个气孔附近还有一个缺陷时，缺陷很容易发现，这也是密集气孔比单个气孔更容易发现。这大概是“视觉”科学的范围了。
4、RCC-M双片评定法，很多人责怪拟合困难，我认为就是在“困难的拟合过程中”来观察“缺陷边界”的运动。
梁老对双胶片的总结可以写进教科书，统一先进标准对双胶片认识。不知上面的对RCC-M解释能否成立，当时法国人讲的很精彩，我一句没听懂，猜的。
回复 梁金昆2012-3-28 16:59 谢谢各位朋友的鼓励！liuhonghui先生讲的运动中评片，大概是“视觉”科学，我以前还真没有这方面的知识，很新鲜！谢谢了！！
回复 yxj远山2012-3-28 21:38 "当我们日常评定一张合格底片时，藐视7根（等距）“丝”都能看见，但是当用纸张盖上像质计，从细丝方向滑动纸张来检查像质计灵敏度，这样也是检查个体差异的最好办法，甚至也可说成是对评片人员“测谎”的最佳办法。"
您好，这句话不太好理解，能具体说说吗？谢谢了
回复 liuhonghui2012-3-29 04:35 yxj远山: "当我们日常评定一张合格底片时，藐视7根（等距）“丝”都能看见，但是当用纸张盖上像质计，从细丝方向滑动纸张来检查像质计灵敏度，这样也是检查个体差异 ...由于像质计丝距是“等距”，因此可以预测看不到的丝径的位置，就“谎称”看到了。所以最好是用纸盖上像质计，从细丝方向滑动观察。探伤监督有点难，确实靠诚实自律
回复 王绪军2012-3-29 20:58 观察底片像质计灵敏度，用纸盖上像质计，从细丝方向滑动观察，这是必须的方法。
回复 梁金昆2012-3-30 10:16 谢谢绪军先生！我不熟悉RCC-M规范第Ⅲ卷。视觉特性问题，我一直未深入思考过。观察像质计为什么不能从粗到细？是“视觉暂留”(视觉惰性)，还是“先入为主”的心理作用？希望讨论！
2012-3-31 15:22 梁老运来半值层解释双胶片技术，肯定会在国内引起业内专家的认可。
ASME95版曾经对射线照相规定能量限制，94版4730也与了95版ASME相同，ASME98版就不在推荐最高能量限制了，我认为原因：
1、为等速双胶片降低透照时间开路；
2、为透照有厚度差的工件单胶片技术通过提高射线能量增大宽容度，满足ASME苛刻的黑度限制，提供理论数值依据。
随着双胶片技术原理的明确， 4730的相关条款应作调整
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